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老化測試

   半導體的老化測試過程基本上模擬運行了芯片整個壽命，可以用來作為器件可靠性的檢測或作為生產窗口來發(fā)現器件的早期故障。傳統(tǒng)的方法是采用電阻進行能耗放電，這一方面會消耗大量的電能，另一方面會大大增加輸配電設備的容量，同時釋放的熱量會增加空調的負擔。通常而言，負載具有負效率特性、影響了工作環(huán)境質量和電力開銷。其中最大的問題就是電量的浪費。比如，一個典型的100路800W的老化測試系統(tǒng)就要消耗超過80KW才能夠提供測試功能。

   IT-M3300系列小功率回饋式直流電子負載很好的填補了這一產品空白，既能模擬各種負載特性，又能將電能無污染的回饋電網，?U的體積內可提供高達800W的功率吸收。

特性測試

   IT-M3200高精度直流電源的電流最大可達10A，分辨率可達10nA，可以滿足用戶更多IC測試需求。另外， IT9100系列功率分析儀可代替電流表，來完成測試。

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生產測試

   在芯片測試中會使用直流電源對芯片進行供電，在此類測試中需要大量小體積、高精度、可編程直流電源。近期，數百臺IT-M3120高精度可編程直流電源集成于測試臺為用戶完成其產線生產測試需求。

    IT-M3100系列擁有擴展輸出電流、電壓的功能?？梢愿鶕脩舨煌蟮碾娏鳌㈦妷褐?，采用并聯、串聯的方式來實現。并聯運行時，最多可并聯4臺。串聯運行時，可連接2臺。透過串并聯功能可支持多種不同功率的待測物測試，并且使用戶的使用更為彈性，設備的使用率大幅提高。